Synthèse et Caractérisation des Couches Minces du Matériau ZnO/CuMn2O4 par Voie Sol-gel
Des informations générales:
Le niveau |
Master |
Titre |
Synthèse et Caractérisation des Couches Minces du Matériau ZnO/CuMn2O4 par Voie Sol-gel |
SPECIALITE |
Nano physique |
Page de garde:
Sommaire:
Chapitre I: Etude Bibliographique
I: Généralité sur les matériaux spinelles. I.1. Description générale
1.2. Propriétés de structure de spinelle.
a) Propriétés optiques
b) Propriétés chimiques
c) Propriétés physiques.
d) propriétés électroniques.
e) propriétés magnétiques
I.3.les différents types de spinelles
1.3.1 Spinelle normal
1.3.2 Spinelle mixte
1.3.3 Spinelle inverse
I.4. Le spinelle CdRe2S4. I.5.ApplicationAB204
1.6. Cas particulier CuMn2O4
1.6.1. Propriétés de CuMn2O4
I.6.1.1. Propriétés structurelles
I.6.1.2. Propriétés physicochimies.
I.6.2. Applications
Chapitre II: Procède sol-gel
II: Généralités sur le procédé sol – gel
II.1. Généralités sur les méthodes de synthèse.
II.1.1. Méthode sol gel
II.1.2. La co-précipitation
II.2. Synthèse par réaction à l’état solide
II.3. Le procédé sol – gel.
II.3.1. Méthode de préparation
II.3.2. La voie sol-gel
II.3.3. Définitions
II.3.4. Principe
II.3.5. Mécanisme réactionnel.
II.3.6. Avantages et inconvénients
II.3.6. 1.Avantages et inconvénients du procédé sol gel
II.4. Applications
II.4.1. Couches minces.
II.4.2. Les limites du procédé sol-gel.
Chapitre III: Techniques de caractérisation
III. Elaboration des Couches Minces De ZnO/CuMn204Et Technique De Caractérisation 25
III-1-préparation de la solution de trempage: Sol Gel
III-1-1 Le protocole 1
III.1.2 Le protocole 2
III.1.3 Choix et préparation des substrats
III.1.3.1-Les substrats de verre
III.1.3.2 Les substrats de silicium
III.1-3-3 Nettoyage des substrats
III.2. Dépôt des couches minces par la méthode ‹‹ Dip-Coating ››
III.3. Méthodes d’analyse des couches minces élaborées
III.3.1 Diffraction des rayons X
III.3.2 Spectroscopie UV Visible
III.3.3 Spectroscopie infrarouge par la transformée de Fourier (FTIR)
III.3.4 Spectroscopie d’impédance complexe (SI)
III.3.4.1 Principe de la spectroscopie d’impédance complexe (SI)
III. 3.4.2 Représentation graphique de l’impédance
III.3.4.3 technique de deux points
Chapitre IV: Résultats et Discussions
IV.1. Diffraction des Rayons X
a- Calcul de la taille des grains
IV. 2. Résultats de la caractérisation par IR
IV.3 Propriétés Optiques
IV.3.1Détermination du gap optique des films de ZnO
IV.3.2 Détermination de l’indice de réfraction et la porosité
IV.4. Spectroscopie d’impédance complexe
IV.4. Les mesures électriques.
I: Généralité sur les matériaux spinelles. I.1. Description générale
1.2. Propriétés de structure de spinelle.
a) Propriétés optiques
b) Propriétés chimiques
c) Propriétés physiques.
d) propriétés électroniques.
e) propriétés magnétiques
I.3.les différents types de spinelles
1.3.1 Spinelle normal
1.3.2 Spinelle mixte
1.3.3 Spinelle inverse
I.4. Le spinelle CdRe2S4. I.5.ApplicationAB204
1.6. Cas particulier CuMn2O4
1.6.1. Propriétés de CuMn2O4
I.6.1.1. Propriétés structurelles
I.6.1.2. Propriétés physicochimies.
I.6.2. Applications
Chapitre II: Procède sol-gel
II: Généralités sur le procédé sol – gel
II.1. Généralités sur les méthodes de synthèse.
II.1.1. Méthode sol gel
II.1.2. La co-précipitation
II.2. Synthèse par réaction à l’état solide
II.3. Le procédé sol – gel.
II.3.1. Méthode de préparation
II.3.2. La voie sol-gel
II.3.3. Définitions
II.3.4. Principe
II.3.5. Mécanisme réactionnel.
II.3.6. Avantages et inconvénients
II.3.6. 1.Avantages et inconvénients du procédé sol gel
II.4. Applications
II.4.1. Couches minces.
II.4.2. Les limites du procédé sol-gel.
Chapitre III: Techniques de caractérisation
III. Elaboration des Couches Minces De ZnO/CuMn204Et Technique De Caractérisation 25
III-1-préparation de la solution de trempage: Sol Gel
III-1-1 Le protocole 1
III.1.2 Le protocole 2
III.1.3 Choix et préparation des substrats
III.1.3.1-Les substrats de verre
III.1.3.2 Les substrats de silicium
III.1-3-3 Nettoyage des substrats
III.2. Dépôt des couches minces par la méthode ‹‹ Dip-Coating ››
III.3. Méthodes d’analyse des couches minces élaborées
III.3.1 Diffraction des rayons X
III.3.2 Spectroscopie UV Visible
III.3.3 Spectroscopie infrarouge par la transformée de Fourier (FTIR)
III.3.4 Spectroscopie d’impédance complexe (SI)
III.3.4.1 Principe de la spectroscopie d’impédance complexe (SI)
III. 3.4.2 Représentation graphique de l’impédance
III.3.4.3 technique de deux points
Chapitre IV: Résultats et Discussions
IV.1. Diffraction des Rayons X
a- Calcul de la taille des grains
IV. 2. Résultats de la caractérisation par IR
IV.3 Propriétés Optiques
IV.3.1Détermination du gap optique des films de ZnO
IV.3.2 Détermination de l’indice de réfraction et la porosité
IV.4. Spectroscopie d’impédance complexe
IV.4. Les mesures électriques.
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